spacer
header
Главная
Контакты
Подготовка образцов
Микроскопы
Анализ хим. состава
Механич. испытания
Твердомеры
Нанотехнологии
Мебель лабораторная
Поиск
 
Главная

Инспекционные микроскопы Версия для печати Отправить на e-mail

Инспекционные микроскопы


Серия МХ40-50

Компактные инспекционные микроскопы МХ40-50 Olympus для исследования и проверки электронных компонент

Компактные инспекционные микроскопы для исследования и проверки электронных компонент. Возможна интеграция с новой оптикой и устройствами для загрузки плат  и компонент.

Данная серия оптимизирована для исследования электронных компонентов, включая магнитные головки и полупроводники,  и обеспечивает чистое, высококонтрастное изображение исследуемых компонентов


MX61 / MX61L

Прямые полупроводниковые инспекционные микроскопы MX61 и MX61L Olympus для исследования и проверки электронных компонент

Прямой инспекционный микроскоп.

Учитывая большой опыт в данной области промышленности  и материаловедении, Olympus предлагает многие решения, позволяющие инспектировать электронные компоненты легче, быстрее и более эффективно. 

MX61/MX61L — полупроводниковый инспекционный микроскоп, был специально разработан для исследования подложек и плат. Данный микроскоп позволяет оператору работать в удобной позиции, тем самым увеличивая комфортное время для инспекции. Максимальны продуктивность и интеграция с инструментами в рабочей области.


 
< Пред.   След. >
spacer
labotex.by © 2021

 
spacer